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微型投影儀基本測(cè)量方法

更新時(shí)間：2010-10-12 17:56:05　編輯：沉默者　文章來(lái)源:中國(guó)視聽(tīng)網(wǎng)　調(diào)整文字大小:【大中小】

微型投影儀基本測(cè)量方法

　　1. 坐標(biāo)測(cè)量法

將被檢測(cè)工件放置工作臺(tái)上，根據(jù)投影屏上的投影，移動(dòng)工作臺(tái)得出數(shù)據(jù)；然后在數(shù)據(jù)處理器上得出所測(cè)數(shù)據(jù)；一般的數(shù)據(jù)處理器具備點(diǎn)、線、圓、角度以及坐標(biāo)轉(zhuǎn)換、公英制轉(zhuǎn)換等功能；角度的測(cè)量也可以通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)投影屏測(cè)得。

　　測(cè)量表面、盲孔、臺(tái)階孔等工件，在物鏡上加一個(gè)半透半返鏡后把被測(cè)工件投影到投影屏上，測(cè)量同上。

　　2. 輪廓比較法

　　將被檢測(cè)工件放置工作臺(tái)上，根據(jù)檢測(cè)工件的外形輪廓尺寸制作好的膠片放置在投影屏上，常用的膠片有圓弧膠片，也可以找專業(yè)制作商根據(jù)您所需要的尺寸定制；可以用較薄的白紙打印臨時(shí)性使用。

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